传感器的返修报告中显示失效原因：Sensor模块die电损坏(ESD/EOS)。那ESD和EOS是什么呢？两者有什么区别呢？

   EOS为Electrical Over Stress的缩写，指所有的过度电性应力。当外界电流或电压超过器件的最大规范条件时，器件性能会减弱甚至损坏。

EOS通常产生于：

1、电源（AC/DC）干扰、电源杂讯和过电压。

2、由于测试程式切换（热气换）导致的瞬变电流/峰值/低频干扰。其过程持续时间可能是几微秒到几秒（也可能是几纳秒），很短的EOS脉冲导致的损坏与ESD损坏相似。

3、闪电。

4、测试程式开关引起的瞬态/毛刺/短时脉冲波形干扰。

5、测试设计欠佳，例如，在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。再比如在对器件供电之前加入测试信号，或超过最大操作条件。

6、来自其他设备的脉冲信号干扰，即从其他装置发送的脉冲。

7、不恰当的工作步骤，工作流程不甚合理。

8、接地点反跳（由于接地点不够导致电流快速转换引起高电压）。

   ESD是英文Electrical Static Discharge的缩写，中文释为静电放电。电荷从一个物体转移到另一物体。静电是一种客观的自然现象，产生的方式多种，如接触、摩擦等。静电的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。人体自身的动作或与其他物体的接触，分离，摩擦或感应等因素，可以产生几千伏甚至上万伏的静电。静电在多个领域造成严重危害。摩擦起电和人体静电是电子工业中的两大危害。生产过程中静电防护的主要措施为静电洩露，中和与遮罩等功能。静电防护工作是一项长期的系统工程，任何环节的失误或疏漏，都将导致静电防护工作的失败。

两者对比区别